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- Emmi（微光显微镜）_百度百科
对于故障分析而言，微光显微镜 (Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。 主要侦测IC内部所放出光子。 在IC元件中，EHP (Electron Hole Pairs) Recombination会放出光子 (Photon)。
- 浅谈失效分析—EMMI（亮点分析） - 知乎
EMMI是一种极其灵敏的显微镜，其光谱能从可见光区延伸到红外光区，并能捕捉到微弱的荧光。 通过将捕捉到的荧光图片与芯片照片重合便能确定荧光产生的位置。
- 芯片漏电点定位及分析（EMMI OBIRCH，显微光热分布，FIB-SEM）
1 设备原理 EMMI 微光显微镜（Emission Microscope, EMMI）是利用高增益相机 探测器来检测由某些半导体器件缺陷 失效发出的微量光子的一种设备。 金鉴实验室凭借其先进的EMMI设备，能够精准捕捉半导体器件缺陷 失效发出的微量光子。
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- EMMI原理及应用 - 知乎
EMMI（微光显微镜） 对于故障分析而言，微光显微镜 (Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。 主要侦测IC内部所放出光子。 在IC元件中，EHP (Electron Hole Pairs) Recombination会放出光子 (P…
- EMMI
对於故障分析而言,微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。 其基本原理是可侦测非常微小的光放射,主要侦测IC内部所放出光子。
- 微光顯微鏡 (EMMI) - iST宜特
EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點定位、尋找亮點、熱點 (hot spot)的工具。 其具備高靈敏度的制冷式電荷 (光)耦合元件 (C-CCD)偵測器，可偵測元件中電子－電洞再結合時所發射出來的光子，其光波長在 350 nm ~ 1100 nm，此範圍相當於可見光和紅外光區。
- 讲一下失效分析中最常用的辅助实验手段：亮点分析（EMMI）-电子发烧友网
微光显微镜 EMMI 可广泛应用于侦测各种芯片组件缺陷所产生的漏电流，包括闸极氧化层缺陷、静电放电破坏、闩锁效应、漏电、接面漏电 、顺向偏压及在饱和区域操作的晶体管，可藉由 EMMI 定位，找热点或找 亮点)位置，进而得知缺陷原因，宜特
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